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| 基体植入法解决荧光分析的基体效应 |
| 付晓红，黄三早，伍小成，郑茂盛，向燕群 |
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摘要 采用X射线荧光分析法测定水泥生料成分时，由于生料中的石灰石会对X射线荧光引起基体效应，从而使分析结果产生误差。所谓基体效应，是在进行X荧光测量时，若被测对象为非单一成分时，如有A、B两种成分，当A元素的特征X射线能量高于B元素的吸收限(或相反)时，则A元素的特征X射线也可以激发B元素，于是产生两种影响：使B元素的X射线照射量率比实际的增多即增强效应；或A元素的特征X荧光照射量率削弱即吸收效应。这两种效应是由物质组分决定的，因此叫做基体效应。由于基体效应的影响，破坏了X射线荧光照射量率与含量间的线性关系，因此用X荧光测量时，必须考虑基体效应问题。通常，通过校正曲线或增加研磨细度即可消除，若影响大就要考虑熔片法。本文采用的是添加引起基体效应的矿石，即基体植入法，解决基体效应问题。
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| 关键词 ：
基体,
植入法,
荧光分析,
基体效应
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出版日期: 2017-08-24
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2014, Vol. 0 
